Цена: смета
Сканирующий микроскоп SEM 3800B позволяет получать изображение поверхностей с очень большим разрешением до 4.5 нм. сканирующий микроскоп сканирует исследуемый образец электронным лучом. Измеряет интенсивность квантов, испускаемых образцом