ВАЖНЫЕ НОВОСТИ
Немецкий бизнес инвестировал в Москву 7,8 млрд долларов

"Сегодня Германия остается одним из крупнейших иностранных инвесторов Москвы: по данным Центробанка на 1 апреля 2021 года накопленные прямые инвестиции Федеративной Республики в Москве достигли 7,8 миллиарда долларов США. За год их объем увеличился примерно на 0,4 миллиарда долларов. Растет и товарооборот между Москвой и Германией: в январе–августе 2021 года он составил 19,9 миллиарда доллар...

Египту представили российские IТ-решения

Российские ИКТ-компании приняли участие в бизнес-миссии в Арабскую Республику Египет для представления отечественных высокотехнологичных решений в области производства телеком-оборудования, кибербезопасности, стриминговых сервисов. Делегацию возглавил замглавы Минцифры России Максим Паршин. В состав делегации вошел генеральный директор компании «РусХайтекЭкспорт» Константин Носков, экс-министр циф...

Атомный ледокол «Сибирь» проекта 22220 вышел на ходовые испытания

Первый серийный атомный ледокол проекта 22220 «Сибирь» покинул достроечную набережную Балтийского завода (входит в состав ОСК) и взял курс на Финский залив, где приступит к выполнению программы заводских ходовых испытаний. Ближайшие три недели сдаточная команда Балтийского завода совместно с представителями контрагентских организаций будет проверять работу механизмов и оборудования ледокола. Сп...

Товарооборот между Дальним Востоком России и ОАЭ в 2021 году вырос в 2 раза

X юбилейное заседание Межправительственной Российско-Эмиратской комиссии по торговому, экономическому и техническому сотрудничеству состоялось в Дубае. Сопредседателями выступили министр промышленности и торговли РФ Денис Мантуров и министр экономики ОАЭ Абдалла Бен Тук Аль-Марри. В рамках заседания динамику экономических отношений Объединенных Арабских Эмиратов и Дальнего Востока России предст...

Изменился график проведения выставки «Металл-Экспо»

Указом Мэра Москвы от 21 октября 2021 г. в Москве установлены нерабочие дни с 28 октября по 7 ноября 2021 г. включительно. В частности, приостановлен доступ посетителей и работников в здания и на территории, в которых осуществляется оказание услуг по непосредственному проведению выставочных мероприятий. С 21 по 28 октября дирекцией и оргкомитетом выставки «Металл-Экспо» проводилась активная раб...

За год в Арктике стартовали более двухсот новых проектов на сотни миллиардов рублей

Год назад, 26 октября 2020 года, Президент России Владимир Путин утвердил своим указом Стратегию развития Арктической зоны Российской Федерации. По данным Корпорации развития Дальнего Востока и Арктики, за это время количество резидентов созданных в Арктике уникальных преференциальных режимов – территории опережающего развития «Столица Арктики» и АЗРФ - возросло до 250 компаний. Объем новых ...

9 Декабря 2009

Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем

Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем
Автoры: Тареев Анатoлий Михайлoвич, Панькo Ольга Ильинична, Кoлoгривoв Виктoр Павлoвич, Дятлoв Олег Алекcандрoвич

Изoбретение oтнocитcя к oблаcти кoнтрoльнo-измерительнoй техники, в чаcтнocти к приборам для контроля параметров телевизионных cиcтем. Уcтройcтво cодержит уcтановленные поcледовательно на оптичеcкой оcи объектив (1) и держатель (2) для размещения теcт-объекта (3), а также cиcтему подcветки (4). Объектив (1) уcтановлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством (5). Система подсветки (4) включает, по меньшей мере, два блока ламп (6), симметрично расположенных относительно оптической оси объектива (1) с возможностью поблочного включения ламп. Хотя бы между одной из ламп (7, 8, 9) системы подсветки (4) и держателем (2) для размещения тест-объекта (3) последовательно установлены рассеиватель (10) и первый ослабитель (11) светового излучения на оси, соединяющей центр держателя (2) для размещения тест-объекта (3) и центр тела свечения лампы (8). Объектив (1), держатель (2) для размещения тест-объекта (3) и система подсветки (4) размещены внутри светонепроницаемого корпуса (12), имеющего отверстие для вывода держателя (2) для размещения тест-объекта (3) за пределы корпуса (12) для замены тест-объекта (3). Технический результат - расширение функциональных возможностей прибора путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и установки сменных тест-объектов с различными рисунками. 6 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к приборам контроля параметров телевизионных систем.

Сущность изобретения поясняется чертежом. На чертеже изображена принципиальная схема прибора для контроля параметров оптико-электронных систем.

Прибор для контроля параметров оптико-электронных систем содержит оптически связанные объектив 1, держатель 2 для размещения тест-объекта 3 и систему подсветки 4. Объектив 1 установлен с возможностью перемещения вдоль его оптической оси и снабжен отсчетным устройством 5 для измерения величины перемещения объектива 1. Система подсветки 4 включает два блока ламп 6 по три лампы 7, 8, 9 в каждом блоке ламп 6, симметрично расположенных относительно оптической оси объектива 1. Между лампами 8 устройства подсветки 4 и держателем 2 для размещения тест-объекта 3 последовательно установлены рассеиватель 10 и первый ослабитель 11. Первый ослабитель 11 может быть выполнен в виде нейтрального светофильтра, набора нейтральных светофильтров, калиброванной диафрагмы или набора калиброванных диафрагм, установленных с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. Объектив 1, держатель 2 для размещения тест-объекта 3 и система подсветки 4 размещены внутри светонепроницаемого корпуса 12, имеющего отверстие для размещения в нем объектива 1. Отсчетное устройство 5 может быть выполнено в виде подвижной шкалы 13, закрепленной на корпусе 14 объектива 1, и неподвижного индекса 15, закрепленного в корпусе 12 над подвижной шкалой 13. Между объективом 1 и контролируемой оптико-электронной системой 16 может быть введен второй ослабитель 17, выполненный в виде нейтрального светофильтра, установленный с возможностью ввода/вывода в оптический тракт. В прибор для контроля параметров оптико-электронных систем может быть введена телескопическая система 18, установленная с возможностью ввода/вывода в оптический тракт на выходе объектива 1. На чертеже также показан видеомонитор 19, на экране которого визуально по изображению тест-объекта контролируют параметры оптико-электронной системы 16.

Устройство работает следующим образом.

Контролируемую оптико-электронную систему 16 располагают перед прибором таким образом, чтобы ее телевизионный канал оказался напротив выходного зрачка объектива 1. Закрепляют в держателе 2 необходимый тест-объект 3. Устанавливают держатель 2 с закрепленным в нем тест-объектом 3 в корпус 12. Включают блоки ламп 6 системы подсветки 4. Наблюдая на экране видеомонитора 19 изображение тест-объекта 3, поворотами оптико-электронной системы 16 устанавливают центр изображения тест-объекта 3 в центр экрана видеомонитора 19. При необходимости подвижкой объектива 1 добиваются резкого сфокусированного изображения тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19. Измерив величину подвижки объектива 1 с помощью отсчетного устройства 5 вычисляют величину несовпадения плоскости фотоприемного устройства оптико-электронной системы 16 с фокальной плоскостью объектива оптико-электронной системы 16. Включая лампы 7, 8, 9 блоков ламп 6 в различных комбинациях и вводя рассеиватель 10 и первый ослабитель 11 перед лампами 8 блоков ламп 6, создают различные освещенности в широком диапазоне в плоскости тест-объекта 3. Визуально по изображению тест-объекта 3 на экране видеомонитора 19 контролируют параметры оптико-электронной системы 16 при различных освещенностях в плоскости тест-объекта 3. Устанавливая в держатель 2 тест-объекты 3 с различными рисунками, контролируют различные параметры оптико-электронной системы 16. При необходимости контроля параметров оптико-электронных систем 16, имеющих различные поля зрения, для того чтобы использовать один и тот же тест-объект 3 без его замены и без дополнительных настроек, в оптический тракт на выходе из объектива 1 вводится телескопическая система 18, позволяющая изменить угловой размер тест-объекта 3 до величины, соответствующей угловому полю зрения контролируемой оптико-электронной системы 16. При необходимости дополнительного ослабления светового излучения на выходе из объектива 1 может быть установлен второй ослабитель 17 в виде нейтрального светофильтра. При проведении контроля параметров оптико-электронной системы 16 исключается фоновая засветка, так как объектив 1, держатель 2 с тест-объектом 3 и система подсветки 4 находятся в светонепроницаемом корпусе 12.

Таким образом, прибор для контроля оптико-электронных систем обеспечивает расширение функциональных возможностей путем обеспечения возможности создания широкого диапазона нормированных значений освещенности в плоскости тест-объекта и возможности простого изготовления и замены сменных тест-объектов с различными рисунками.

Кол-во просмотров: 9648
На правах рекламы